| 产品可靠性试验清单 | |||
| 编号 | 应力方式 | 参考文件 | 附加要求 |
| No. | |||
| 1 | 温度循环(TC) | JESD22 A-104 附录6 | 4000个循环（AECQ只要求1000个循环） -55℃至+150℃ ，1小时2个循环； 应力试验前后都要都要进行测试。 |
| 2 | 恒温双85试验(THT) | GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101C | TA = 85℃, RH = 85%, 高温扩散工艺技术的改进（重点是高温长时间扩散，如隔离扩散）包括可能引起硅片内部隐裂的工艺技术改进；包封工艺技术、框架处理工艺技术的改进。 |
| 3 | 高温反偏(HTRB) | MIL-STD-750-1 M1038 方法 A | 2000小时（AECQ只要求1000小时）, 施加用户规范或产品规格书中的最高直流反向额定电压，环境温度TA要根据漏电损耗做相应调整使器件工作在最高结温175℃，应力试验前后都要进行测试。 |
| 4 | 高压加速寿命(PCT) | JESD22 A-108 | 192小时（AECQ只要求96小时） TA = 121℃, RH = 100%, 15psig，应力试验前后都要都要进行测试。 |
| 5 | 高加速度应力测试(HAST) | JESD22 A-110 | 96小时：TA=130°C/85%RH，施加反向偏压=80%额定电压直到达到室内放电电压（典型的42V)，应力试验前后都要都要进行测试。 |
| 6 | 高温栅偏(HTGB) | JESD22 A-108 | 不适用于二极管，只用于MOS&IGBT 在指定的TJ 下1000小时，HTGB前后都 要测试应力 |
| 7 | 高温高湿反向偏压(H3TRB) | JESD22 A-101 | 2000小时（AECQ只要求1000小时），TA=85℃/85%RH,反向偏压=80%额击穿定电压，最高100V,应力试验前后都要都要进行测试。 |
| 8 | 间歇工作寿命(IOL) | MIL-STD-750 方法1037 | 2000小时. 测试持续时间根据表2A计算,TA=25°C,器件通电以确保ΔTJ ≥ 100°C(不要超过绝对最大额定值)，应力试验前后都要都要进行测试。 |