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产品型号AS-HTRB-C8AS-HTRB-C16AS-HTRB-M16AS-HTRB-T8AS-HTRB-M8AS-HTRB-H8
主要特点小型化设备,设备的宽度为0.72米,可进出客运电梯,适用于小批量的高温反偏试验。常规配置设备,老化板水平放置,高温箱风流量大,温度均匀性更好。具有双温区,适用于需要不同温度条件的小批量高温反偏试验带结温测试功能,可实时显示DUT的结温,通过简单的设定,可使器件在Tjmax条件下进行试验。带结温测试功能,并带有四温区,每个批次的试验条件可完全独立。用于EOL试验。用于IGBT模块的试验,最高试验电压可达8000V,提供多种结温测试方法。
符合标准试验线路及试验方法满足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相关标准要求。
适用器件各种封装的二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT等器件进行高温反偏试验(HTRB)和高温栅偏试验(HTGB)。SKY器件(特别是Low VF器件)二极管、MOSFET、IGBT等IGBT模块
试验通道8个试验通道16个试验通道16个试验通道8个试验通道16个试验通道4个试验通道
试验容量80×8=640位80×16=1280位80×16=1280位80×8=640位20×16=320位5×4=20位
试验电源标配4台试验电源,电源规格可选标配8台试验电源,电源规格可选标配4台试验电源,电源规格可选
电源规格有20V、100V、200V、300V、600V、1000V、1200V、2000V电源规格可供选择(电源可手动设置,也可程序设置)。
基本功能漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定;老化时间的设定;
           实时监测并显示每通道的老化时间、老化进度、失效工位数等;
           实时显示并记录保存老化参数(每工位IR、VR、Temp);
           实时判断是否超限,超限报警并记录超限工位及超限时间;
           实时显示每工位的最大IR值,并显示最大IR值产生时间;
           老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线。
扩展功能A、保护元件置于高温环境外;
           B、适用于桥堆、MOS模块的试验(正负双路电源同时施加);
           C、适用于双向TVS、Zener器件试验的自动换向功能(电源按设定时间自动调换正负极性);
A、保护元件置于高温环境外;
           B、测量DUT的热敏参数(K系数);
           C、测量DUT的结温Tj值(通过电学法测量);
计算机工业级计算机;12.1英寸1024×768点阵TFT彩色液晶显示器;键盘、鼠标、触摸屏输入方式;试验数据以文本、表格(Excel)、曲线等方式保存在硬盘中,供永久记录保存。
老化板根据用户要求选配,标配基板Tg=260℃,特殊高温可按要求定制;
电网要求单相AC220V±10%,47Hz~63Hz,6KW
外形尺寸W720mmхH1620mmхD1320mmW1360mmхH1820mmхD1320mmW1500mmхH1820mmхD1320mmW1360mmхH1820mmхD1320mm
重量约300kg约500kg约600kg约500kg

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