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HAST老化试验系统

HAST老化试验系统

通过提高环境应力(温度)与工作应力(电压)加快实验过程,缩短产品寿命时间,评估器件在偏压下高温,高湿,高气压条件下对湿度的抵抗能力(相比于THB,温度增加,压力增大,实验的时间可以缩短,加快试验的进程)。

    适用的研发和工艺改进                                                                                                                                      1、高温扩散工艺技术的改进(重点是高温长时间扩散,如隔离扩散)包括可能引起硅片内部隐裂的工艺技术改进

    2、包封工艺技术、框架处理工艺技术的改进

    3、塑封料、框架的变更

    4、新产品(含新的封装结构)

    5、封装工艺过程中的污染

    工控机配置

    随机配置工业计算机,显示屏为12寸液晶显示屏。

    工控机配置:CPU/主板:Intel ATOM D2700MUD(低功耗,无需风扇,可靠度高)

    硬盘:ADATA威刚128G固态硬盘

    内存:Kingston 4G DDR3

    机箱及电源:工控专用机箱                                                       串行通讯接口:4个                                                           软件配置

    Windows 7中文 32位正版

    (获取微软正版授权)

    设备专用控制软件


    工控机配置

    随机配置工业计算机,显示屏为12寸液晶显示屏。

    工控机配置:CPU/主板:Intel ATOM D2700MUD(低功耗,无需风扇,可靠度高)

    硬盘:ADATA威刚128G固态硬盘

    内存:Kingston 4G DDR3

    机箱及电源:工控专用机箱                                                       串行通讯接口:4个                                                           软件配置

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    漏电断路器安全保护     

    意外断电时系统自动切断总电源,供电时需要人为操作恢复系统正常工作    

    设备供电部分有漏电保护开关,整机外壳安全接地。


HAST老化试验系统

AS-HAST-53

试验箱内部容积:W*H*L(mm)355*355*426

系统体积:日本原装HAST试验箱+配线系统

适用于各种封装的二极管、半桥、全桥,集成电路,功率模块等进行HAST试验。

试验标准:JESD22-A110、AEC-Q101、JESD22A-118、JESD22-A102

测试板:每块板上40工位,每个工位串联一个保险丝,8个材料并在一起引出一根线接至检测点,外端8个检测点共用一个电流检测装置。测试能力:最大电压200V。

通道分区:4个老化试验通道,2个独立直流电源。每个电源对应2个通道一批材料。

满载容量:40颗/每通道×4通道=160颗。    

电源配置:系统配置二台知名品牌电源,电源规格如下:

试验电源         PS1          PS2

输出电压   0~300V         0~300V

输出电源      0~2.5A         0~2.5A


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