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高加速寿命试验箱

高加速寿命试验箱

通过提高环境应力(温度)与工作应力(电压)加快实验过程,缩短产品寿命时间,评估器件在偏压下高温,高湿,高气压条件下对湿度的抵抗能力(相比于THB,温度增加,压力增大,实验的时间可以缩短,加快试验的进程)。

HAST老化试验系统

AS-HAST-53

试验箱内部容积:W*H*L(mm)355*355*426

系统体积:日本原装HAST试验箱+配线系统

适用于各种封装的二极管、半桥、全桥,集成电路,功率模块等进行HAST试验。

试验标准:JESD22-A110、AEC-Q101、JESD22A-118、JESD22-A102

测试板:每块板上40工位,每个工位串联一个保险丝,8个材料并在一起引出一根线接至检测点,外端8个检测点共用一个电流检测装置。测试能力:最大电压200V。

通道分区:4个老化试验通道,2个独立直流电源。每个电源对应2个通道一批材料。

满载容量:40颗/每通道×4通道=160颗。    

电源配置:系统配置二台知名品牌电源,电源规格如下:

试验电源         PS1          PS2

输出电压 0~300V          0~300V

输出电源      0~2.5A          0~2.5A


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