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晶体管老化系统改成立器件综合老化系统

晶体管老化系统改成立器件综合老化系统

适用于各种封装(包括表面贴装)形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等元器件的稳态寿命试验(CFOL)和间歇寿命试验(IFOL)和功率老炼筛选。

晶体管老化系统改成立器件综合老化系统

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