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集成电路高温动态老化系统

集成电路高温动态老化系统

适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路,包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。

产品型号AS-ICDT-B8AS-ICDT-B16
产品名称集成电路高温动态老化系统
高温试验箱内箱尺寸:45cm×45cm×45cm,垂直风道设计。内箱尺寸:60cm×60cm×60cm,水平风道设计。
试验区域8个(一板一区)16个(一板一区)
试验容量136×8=1088位(以DIP14为例)200×16=3200位(以DIP14为例)
一级电源标配4路25V/40A或40V/25A的程控数字电源可选。标配8路25V/40A或40V/25A的程控数字电源可选。
试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能,确保试验电源的可靠性。
计算机实时检测并记录电源的输出电压、电流,便于试验监控。
二级电源① 每个通道供独立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二级电源。
②每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。
③ 输出能力:±1.00V~±40.00V/10A(高压配置);程控分辨率:10mV;纹波(RMS)≤10mV;
           负载变化率≤0.1%FS±20mV。
④电源监测:实时监测记录二级电源的电压,并可生成图形曲线,便于试验监控。
数字信号①每个通道:64路数字信号;
② 编程能力:编程深度256Kbit;最小编程步长:100ns;编程分辨率:100ns;最高信号频率:5MHz;
③ 寻址能力:可寻址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00~A35, 可寻址行列地址刷新器件64Gbit
           (老化DRAM/SDRAM  等)AXX~A17,AYY:A00~A17;
④ 信号特性:每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能;
⑤ 驱动能力:IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。
模拟信号① 模拟信号数:2路或4路;
② 波形类型:正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波;
③ 模拟信号指标:信号可编程频率:1Hz~32KHz,程控幅度范围Vpp:0~±10V, 直流偏移量范围Vdc:0~1/2 Vpp,编程步长: 0.01V,驱动能力:≥1.0A。
计算机工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面,友好的人机对话窗口, 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择,软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能, 试验状况一目了然,方便用户随时查验。
老化板多达几百种按军标要求设计的老化试验板供用户选择,各种基板和老化座均耐高温、抗氧化、耐疲劳。
电网要求单相AC220V±10%,47Hz~63Hz,3KW单相AC220V±10%,47Hz~63Hz,6KW
外形尺寸W720mmхH1620mmхD1060mmW1360mmхH1820mmхD1320mm
重量约300kg约500kg

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