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半导体行业
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半导体行业
当今,无论是各路资本争相进入的AI行业还是已经引起多国政府关注的5G技术,这一切离不开半导体的支持。在我们越来越依赖半导体的同时,又对它们的安全性和工作寿命提出了更高的要求。那么我们又如何预知它们的寿命呢?答案只有一个:模拟和筛选。安而森有着各类符合行业最高标准的环境试验设备和老化设备为您提供判断依据,让您的产品出厂无忧。
行业
检测对象
可靠性试验项目
试验标准
严酷等级
解决方案
IGBT模块
IPM模块
SIC
温度循环
TC
JESD22-A104
175℃~-65℃
5000cycle/100cycle/1000cycle
温度循环试验箱TC
低温存储试验LTSL
JESD22-A11
-55℃
168h/500h/1000h
低温试验箱LTS
高温存储试验 HTS
JESD22-A103C
150℃
168h/500h/1000h
高温试验箱HTS
稳态湿热试验 THB
JESD22-A101C 5
85℃/85%RH
168h/500h/1000h
稳态湿热试验箱STH
高温高湿压 H3TRB
AEC -Q10
1
JESD22A-101
85℃/85%RH/VD=100V
168h/500h/1000h
高温高湿反偏试验系统H3TRB
高温反偏HTRB
JESD22-A108
175℃/125℃/VRRM*80%/Tj(max)168h/500h/1000h
高温反偏试验系统HTRB
高温栅反偏试验HTGB
JESD22A-108
AEC-Q101
175℃/150℃/VRRM*100%/Tj(max)
168h/500h/1000h
高温栅偏试验系统HTGB
高压加速寿命试验PCT
JESD22-A11
121℃/100%RH/2atm
96h/168h
高压蒸煮试验箱PCT
高加速老化试验
JESD22-A110
130℃/85%RH/0.23MPa/VD=100V
96h/168h
高加速寿命试验箱HAST
分
立
器
件
温度循环(TCT)
GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1
GB/T 2423.22-2012 7
JESD22-A104D
150℃~-55℃/-40℃
50cycle/100/1000cycle
温度循环试验箱TC
低温存储试验LT
JESD22-A11
-55
℃
168h/500h/1000h
低温试验箱LTS
高温存储试验 HTS
JESD22-A103C
150
℃
168h/500h/1000h
高温试验箱HTS
高温反偏
GB/T 15291-1994 6.2
JESD22-A108C
VRRM*80%/Tj(max)
168h/500h/1000h
高温反偏试验系统HTRB
恒温恒湿(H3TRB)
GB/T 4937-1995
第Ⅲ篇 5
GB/T 2423.3-2006
JESD22-A101C
85
℃/85%RH/VD=100V
168h/500h
高温高湿反偏试验系统H3TRB
高加速耐湿及偏压BHAST
GB/T 4937.4-2012
JESD22-A110D
130℃/85%RH/0.23MPa/VD=100V
96h/168h
高加速耐湿偏压试验系统BHAST
高压蒸煮(PCT)
JESD22-A102-C
121℃/100%RH/2atm
96h/168h
高压蒸煮试验箱PCT
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